TD2690B介質(zhi)損耗測(ce)試(shi)儀(yi)

TD2690B 介質(zhi)損耗測(ce)試(shi)儀(yi)使(shi)用說明(ming)

壹、概(gai)述

    TD2690B抗(kang)幹擾介質(zhi)損耗測(ce)試(shi)儀(yi)壹(yi)種先(xian)進(jin)的(de)測(ce)量介質(zhi)損耗（tgδ）和電容(rong)容(rong)量（Cx）的(de)儀(yi)器(qi)，用於工(gong)頻高(gao)壓下(xia)，測(ce)量各種絕(jue)緣材(cai)料、絕緣(yuan)套管、電力(li)電纜(lan)、電容(rong)器(qi)、互感器(qi)、變(bian)壓器(qi)等高(gao)壓設(she)備(bei)的(de)介質(zhi)損耗，（tgδ）和電容(rong)容(rong)量（Cx）它(ta)淘(tao)汰(tai)了 QS 高(gao)壓電橋，具(ju)有(you)操作(zuo)簡(jian)單、中(zhong)文顯示、打(da)印、使(shi)用方便(bian)、無(wu)需換算(suan)、自帶高(gao)壓、抗(kang)幹擾能力(li)強(qiang)、測(ce)試(shi)時(shi)間（在國(guo)內同(tong)類(lei)產(chan)品中(zhong)速度*快(kuai)）等特點(dian)。體(ti)積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕(qing)是我廠的(de)**代抗(kang)幹擾介質(zhi)損耗測(ce)試(shi)儀(yi)。

二(er)、技術指標(biao)

1、環境溫(wen)度：0 ～40℃（液(ye)晶(jing)屏應(ying)避(bi)免長(chang)時(shi)日(ri)照(zhao)）
2、相(xiang)對(dui)濕(shi)度：30%～70%
3、供(gong)電電源(yuan)：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz
4、外(wai)形尺寸：長(chang)×寬(kuan)×高(gao) 500mm×300mm×400mm
5、重(zhong)量：約(yue)18Kg
6、輸出功(gong)率(lv)：0.6KVA
7、顯示分(fen)辯(bian)率：3位(wei)、4位(wei)（內部(bu)全是6位(wei)）
8、測(ce)量範(fan)圍(wei)及輸(shu)出電壓選擇：
    介質(zhi)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
    試(shi)品電容(rong)容(rong)量（Cx）和加載(zai)電壓：
    2.5KV檔(dang):≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
    5KV檔(dang):≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
    10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基(ji)本(ben)測(ce)量誤(wu)差：
    介質(zhi)損耗（tgδ）：1%±7個字(加(jia)載(zai)電流20uA～500mA)
    介質(zhi)損耗（tgδ）：2%±9個字(加(jia)載(zai)電流5uA～20uA)
    電容(rong)容(rong)量(Cx)：1.5%±1.5pF

三(san)、結構

    儀(yi)器(qi)為升壓與(yu)測(ce)量壹(yi)體化(hua)結構，輸(shu)出電壓2.5KV—10KV五(wu)檔可調(tiao)，以(yi)適應(ying)各種需要，在測(ce)量時(shi)無(wu)需任(ren)何(he)外(wai)部(bu)設(she)備(bei)，接(jie)線與(yu)QS 電橋相(xiang)似，但(dan)比其方便(bian)。
圖壹(yi)為儀(yi)器(qi)操作(zuo)面板(ban)圖(tu)，圖(tu)二為儀(yi)器(qi)接(jie)線端(duan)面圖(tu)。 
    1、顯示窗(chuang)——液晶(jing)顯示屏(ping)。 2、起(qi)動燈(deng)——指示高(gao)壓輸(shu)出。
    3、警示燈(deng)——操作(zuo)時(shi)提示。
    4、操作(zuo)鍵(jian)盤——選擇快(kuai)測(ce)、起動、停(ting)止(zhi)、打印等操作(zuo)。
    5、打印機(ji)——打(da)印測(ce)試(shi)結果(guo)。
    6、電壓選擇開(kai)關——測(ce)量時(shi)選擇相(xiang)應試(shi)驗電壓。
    7、電源(yuan)插座——保險(xian)絲用5A。 8、電源(yuan)開(kai)關——電源(yuan)通(tong)斷。
    9、接(jie)地端(duan)子——使(shi)用前，必須將該(gai) 端(duan)子可靠(kao)接(jie)地。
    ★10、測(ce)量電源(yuan)輸(shu)入端(duan) I x——有兩(liang)個出線頭，紅(hong)色(se)測(ce)試(shi)鉗為(wei)中(zhong)心頭（有Cx標(biao)記）應與(yu)被試(shi)品壹(yi)端(duan)相(xiang)接(jie)，黑色(se)小(xiao)鍔(e)魚(yu)夾(jia)為屏蔽(bi)頭（有E標(biao)記）是儀(yi)器(qi)內部高(gao)壓輸(shu)出壹個參考(kao)端(duan)，在正(zheng)接(jie)法(fa)測(ce)量時(shi)應(ying)接(jie)地，在反(fan)接(jie)法(fa)測(ce)量時(shi)應(ying)浮(fu)空(kong)，外(wai)接(jie)法(fa)參見“外(wai)接(jie)高(gao)壓法(fa)”。
    ★11、標準電流輸入端(duan) I N——僅當外(wai)接(jie)標準電容(rong)器(qi)進(jin)行(xing)測(ce)量時(shi)才(cai)用，該 端(duan)應與(yu)外(wai)接(jie)標準電容(rong)器(qi)壹端(duan)相(xiang)連(lian)。I N 必須小(xiao)於(yu)100mA！
    12、測(ce)量高(gao)壓輸(shu)出端(duan)UH——黃色(se)測(ce)試(shi)鉗為(wei)出線頭（有UH 標(biao)記），與被試(shi)品壹(yi)端(duan)相(xiang)連(lian)。

四(si)、工(gong)作(zuo)原理

    儀(yi)器(qi)測(ce)量線路(lu)包括壹(yi)路(lu)標(biao)準回路(lu)和壹路(lu)測(ce)試(shi)回路(lu)，如(ru)圖(tu)三所(suo)示。
    標(biao)準回路(lu)由(you)內置高(gao)穩(wen)定(ding)度標(biao)準電容(rong)器(qi)與標(biao)準電阻(zu)網絡(luo)組(zu)成(cheng)，由(you)計算機(ji)實(shi)時(shi)采(cai)集(ji)標準回路(lu)電流與測(ce)試(shi)回路(lu)的(de)電流幅值(zhi)及(ji)其(qi)相(xiang)位(wei)差，並(bing)由(you)之算(suan)出被測(ce)試(shi)品的(de)電容(rong)容(rong)值(zhi)（Cx）和其介質(zhi)損耗（tgδ）。
    數據采(cai)集電路(lu)全部采用高(gao)穩(wen)定(ding)度器(qi)件，采集板(ban)和采集(ji)計算機(ji)被鐵盒(he)完(wan)全浮(fu)空(kong)屏蔽(bi)，儀(yi)器(qi)的(de)外(wai)殼(ke)接(jie)地屏(ping)蔽(bi)，另外(wai)使(shi)用了光導(dao)數據，浮(fu)空(kong)地、大(da)面(mian)積(ji)地、單(dan)點(dian)地(di)、數字濾(lv)波等抗(kang)幹擾技(ji)術(shu)，加之計算機(ji)對(dui)數百個(ge)電網周(zhou)期(qi)的(de)數據進(jin)行(xing)處理(li)，故(gu)測(ce)量結(jie)果穩(wen)定(ding)、**、可靠(kao)。
    由(you)圖三(san)可見，儀(yi)器(qi)高(gao)壓變(bian)壓器(qi)的(de)高(gao)壓側和測(ce)量線路(lu)都是浮(fu)地的(de)，用戶(hu)可根據不同的(de)測(ce)量對(dui)象和測(ce)量需要，靈活的(de)采(cai)用多種接(jie)線方式， 如采(cai)用“正(zheng)接(jie)線法(fa)”進(jin)行(xing)測(ce)量時(shi)，可將(jiang)“E”點(dian)接(jie)地，而(er)當采(cai)用“反接(jie)線法(fa)”進(jin)行(xing)測(ce)量時(shi)，可將(jiang)“UH”點(dian)接(jie)地，而(er)將(jiang)E點(dian)浮(fu)空(kong)。
    圖中(zhong)除(chu)測(ce)試(shi)品Cx外(wai)，其(qi)余(yu)為(wei)本儀(yi)器(qi)，細(xi)線框內(nei)部(bu)分(fen)對(dui)儀(yi)器(qi)外(wai)殼(ke)能承(cheng)受15KV工(gong)頻高(gao)壓5分(fen)鐘，額定(ding)耐(nai)壓10KV，儀(yi)器(qi)內附(fu)標(biao)準電容(rong)CN，名(ming)義(yi)值(zhi)為(wei)50PF，tgδ≤0.0001,耐(nai)壓10KV高(gao)壓變(bian)壓器(qi)額定(ding)輸(shu)出功(gong)率(lv)為(wei)1KVA.
    ★“E”點(dian)為(wei)儀(yi)器(qi)的(de)內(nei)屏(ping)蔽(bi)與測(ce)量電纜(lan)的(de)屏(ping)蔽(bi)層相(xiang)連(lian)，不是大(da)地與(yu)儀(yi)器(qi)的(de)外(wai)殼(ke)也(ye)不連(lian)通(tong)！！！

五(wu)、使(shi)用方法(fa)

★★★**操作(zuo)註意(yi)事項(xiang)
    1、使(shi)用時(shi)必須將儀(yi)器(qi)的(de)接(jie)地端(duan)子可靠(kao)的(de)接(jie)地。
    2、只(zhi)有(you)關閉儀(yi)器(qi)電源(yuan)，試(shi)驗電壓選擇開(kai)關置於“關”位(wei)置時(shi)，接(jie)觸儀(yi)器(qi)的(de)後(hou)部(bu)及其(qi)測(ce)量線纜(lan)與被試(shi)品才(cai)被認為(wei)是**的(de)。
    3、儀(yi)器(qi)在測(ce)量時(shi)，嚴(yan)禁(jin)操作(zuo)“試(shi)驗電壓”選擇開(kai)關。
    4、正(zheng)接(jie)線法(fa)UH端(duan)為高(gao)電壓，反(fan)接(jie)線法(fa) I X 端(duan)為高(gao)電壓，使(shi)用時(shi)必須根據實(shi)際情(qing)況將帶(dai)高(gao)電壓的(de)線纜(lan)與地(di)保(bao)持(chi)足夠(gou)的(de)距(ju)離(li)。
    5、不得更換(huan)不符(fu)合(he)面(mian)板(ban)指(zhi)示值(zhi)的(de)保(bao)險(xian)絲管，（內部(bu)壹(yi)只(zhi)保險(xian)絲為：0.5A）
    6、使(shi)用時(shi)盡(jin)可能用廠家(jia)隨(sui)儀(yi)器(qi)提供的(de)線纜(lan)以確保(bao)測(ce)量精(jing)度。
    7、操作(zuo)鍵(jian)盤 
    備(bei)用——不用 。 快測(ce)——快速(su)測(ce)量，無(wu)抗(kang)幹擾功(gong)能。
    抗(kang)擾——抗(kang)幹擾測(ce)量。 正(zheng)接(jie)——正(zheng)接(jie)法(fa)測(ce)量。
    反(fan)接(jie)——反接(jie)法(fa)測(ce)量。 起(qi)動——起動高(gao)壓，開(kai)始(shi)測(ce)量。
    打(da)印——在測(ce)試(shi)結果(guo)出來後，打印測(ce)試(shi)數據。
    外(wai)接(jie)——外(wai)接(jie)法(fa)測(ce)量，也(ye)用來選擇外(wai)接(jie)標準電容(rong)的(de)容(rong)量(liang)。
    停(ting)止(zhi)——可以(yi)在測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)，中(zhong)斷測(ce)量。
    測(ce)試(shi)前先(xian)用“試(shi)驗電壓”開(kai)關選取好輸(shu)出電壓，然後用“操作(zuo)鍵(jian)盤”選擇好測(ce)試(shi)方式。儀(yi)器(qi)首先(xian)自檢（顯示屏(ping)、光電通(tong)訊、內(nei)存、操作(zuo)鍵(jian)、數模轉換、電網頻率），自檢通(tong)過(guo)後(hou)，進(jin)入主(zhu)目錄，這(zhe)時(shi)按(an)屏幕(mu)提示即可完(wan)成(cheng)測(ce)試(shi)。
    進(jin)入測(ce)量狀(zhuang)態後，用戶(hu)隨(sui)時(shi)可用“停(ting)止(zhi)”鍵(jian)退出測(ce)量狀(zhuang)態。
    做(zuo)正(zheng)、反(fan)接(jie)法(fa)測(ce)量時(shi)無(wu)須人(ren)工(gong)幹預(yu)。
    ★做(zuo)外(wai)接(jie)方式測(ce)量時(shi)，中(zhong)途會(hui)顯示“請(qing)關閉外(wai)接(jie)高(gao)壓！”並(bing)停(ting)壹下(xia)，等(deng)候(hou)人(ren)工(gong)將外(wai)加(jia)高(gao)壓關閉，關閉外(wai)高(gao)壓後(hou)，（必須關閉外(wai)加(jia)高(gao)壓），再(zai)按(an)壹次(ci)“起動”鍵(jian)才能完(wan)成(cheng)測(ce)試(shi)。
    ★如果(guo)外(wai)高(gao)壓未關閉，則(ze)測(ce)試(shi)結果(guo)不真實(shi)！
    ★★★外(wai)接(jie)標準電容(rong)的(de)容(rong)量(liang)選擇：
    “外(wai)接(jie)方式”時(shi)，每(mei)按(an)壹次(ci)“外(wai)接(jie)”鍵(jian)，則(ze)顯示的(de)外(wai)接(jie)標準電容(rong)容(rong)量“XXXXpF”將(jiang)改變，共八種容(rong)量供(gong)選擇（★*後(hou)壹(yi)種為(wei)廠家(jia)調(tiao)試(shi)用，用戶(hu)使(shi)用則(ze)無(wu)效(xiao)。）：
    50pF、 100pF、 150pF、 200pF、500pF、1000pF、 XXXpF、XXXpF。
    應選擇與(yu)外(wai)接(jie)標準電容(rong)容(rong)量相(xiang)等的(de)容(rong)量(liang)，如果(guo)使(shi)用外(wai)接(jie)電容(rong)容(rong)量特(te)殊(shu)，可請(qing)生產(chan)廠家(jia)將(jiang)該(gai)電容(rong)容(rong)量輸(shu)入儀(yi)器(qi)中(zhong)。如果(guo)選擇的(de)外(wai)接(jie)標準電容(rong)與(yu)實(shi)際不相(xiang)等，則(ze)測(ce)量結(jie)果會(hui)受影響。
        反(fan)接(jie)線法(fa)：（接(jie)線如(ru)圖五(wu)所(suo)示） 
    通(tong)電前，先(xian)將“試(shi)驗電壓”開(kai)關置於“關”位(wei)置，將U H端(duan)子接(jie)地，將(jiang)I X的(de)芯線（有(you)C X標記）接(jie)至被試(shi)品CX的(de)高(gao)壓端(duan)。
    通(tong)電後(hou)，按(an)“反接(jie)”鍵(jian)，選好反(fan)接(jie)線方式：用“試(shi)驗電壓”開(kai)關選好電壓：然後按(an)“啟動”鍵(jian)開(kai)始(shi)測(ce)試(shi)。
    ★★★特別(bie)註(zhu)意(yi)：屏(ping)蔽(bi)“E”與 I X電位(wei)接(jie)近，可接(jie)至被試(shi)品高(gao)壓端(duan)的(de)屏(ping)蔽(bi)或(huo)者(zhe)懸空(kong)，**不能接(jie)地！！！

    外(wai)接(jie)高(gao)壓法(fa)：（接(jie)線圖(tu)如六(liu)所(suo)示）
    CB為(wei)外(wai)接(jie)標準電容(rong)，CX為(wei)被試(shi)品。當被試(shi)品要求(qiu)試(shi)驗電壓大(da)於10KV時(shi)，可以(yi)外(wai)接(jie)高(gao)壓進(jin)行(xing)測(ce)量，即不使(shi)用儀(yi)器(qi)內部高(gao)壓變(bian)壓器(qi)，而外(wai)接(jie)壹臺高(gao)壓裝(zhuang)置進(jin)行(xing)測(ce)量。

    ★★★註(zhu)意(yi)：外(wai)接(jie)高(gao)壓法(fa)進(jin)行(xing)測(ce)量時(shi)，“試(shi)驗電壓”開(kai)關必須置於“關”位(wei)置！！。
    ★★★外(wai)接(jie)高(gao)壓法(fa)時(shi):應(ying)外(wai)接(jie)標準電容(rong)器(qi)CB，不許使(shi)用儀(yi)器(qi)內標準電容(rong)器(qi)！
通(tong)電後(hou)，多(duo)次按(an)“外(wai)接(jie)”鍵(jian)，選好外(wai)接(jie)線方式以及(ji)外(wai)接(jie)的(de)標(biao)準電容(rong)容(rong)量，必須將“試(shi)驗電壓”開(kai)關置於“關”位(wei)置！調整好外(wai)接(jie)電壓，然後按(an)“啟動”鍵(jian)開(kai)始(shi)測(ce)試(shi)。
    BC2690B為中(zhong)文液晶(jing)顯示，有(you)中(zhong)文漢字提示各類測(ce)試(shi)信(xin)息。當測(ce)試(shi)完(wan)成(cheng)後(hou)，按(an)“打印”鍵(jian)，打印測(ce)試(shi)結果(guo)。

六(liu)、保管免費(fei)及(ji)免(mian)費修(xiu)理期限

    儀(yi)器(qi)應在原廠包(bao)裝(zhuang)條(tiao)件(jian)下(xia)，於(yu)室(shi)內(nei)貯存，其環境溫(wen)度為(wei)0—40℃相(xiang)對(dui)濕(shi)度為(wei)30%—70%，且(qie)在空(kong)氣(qi)中(zhong)不應含(han)有足(zu)以引起(qi)腐蝕(shi)的(de)有(you)害物質(zhi)。儀(yi)器(qi)從冷(leng)環境突(tu)然到熱(re)環境中(zhong)時(shi)，可能有(you)結(jie)露(lu)，應(ying)等(deng)到結(jie)露(lu)消失後使(shi)用。每年應打(da)開(kai)儀(yi)器(qi)，消除(chu)由(you)於野外(wai)環境作(zuo)業產(chan)生的(de)灰塵(chen)，特別(bie)是內(nei)部標(biao)準電容(rong)處的(de)灰塵(chen)。
    儀(yi)器(qi)和附(fu)件(jian)自制(zhi)造(zao)廠發(fa)貨日(ri)期起18個(ge)月(yue)內(nei)，當用戶(hu)在完(wan)全遵(zun)守制(zhi)造(zao)廠使(shi)用說明(ming)書所(suo)規(gui)定(ding)的(de)保(bao)管，使(shi)用條(tiao)件(jian)下(xia)，發(fa)現(xian)產(chan)品制造質(zhi)量(liang)**或(huo)不正(zheng)常工(gong)作(zuo)時(shi)，制(zhi)造(zao)廠家(jia)給(gei)予(yu)修(xiu)理或(huo)更換(huan)。

七(qi)、儀(yi)器(qi)成(cheng)套性

1、介質(zhi)損耗測(ce)試(shi)儀(yi) 壹臺 2、專用測(ce)試(shi)線 壹套
3、保險(xian)絲(5A) 肆只(zhi) (0.5A) 貳只(zhi) 4、說明(ming)書 壹份(fen)

附(fu)錄：抗(kang)幹擾探(tan)討

（壹）幹擾(rao)

    以(yi)電容(rong)試(shi)品為(wei)例(li)，當工(gong)頻電壓加(jia)在電容(rong)上(shang)時(shi)，其(qi)上(shang)流過(guo)兩(liang)個電流(圖A)：容性電流I C和阻(zu)性電流I r,合成(cheng)為(wei)試(shi)品電流I X。I C和I r形成(cheng)的(de)夾(jia)角(jiao)δ即為介質(zhi)損耗角。當幹(gan)抗(kang)電流Ig 流入試(shi)品時(shi)，與(yu)I X 合(he)成(cheng)為(wei)Ig X，I X與(yu)IgX之(zhi)間的(de)夾(jia)角(jiao)β是由(you)於幹(gan)擾電流Ig形成(cheng)的(de)。測(ce)量到的(de)電流IgX與UC的(de)夾(jia)角(jiao)是β+δ與(yu)介質(zhi)角(jiao)δ相(xiang)差很大(da)。

（二）方法(fa)

    目前，抗(kang)幹擾介質(zhi)損耗儀(yi)通(tong)常采用的(de)幹(gan)擾(rao)方法(fa)主(zhu)要有幾(ji)種：
    1、移(yi)相(xiang)法(fa)
    方法(fa)是將(jiang)加到試(shi)品上(shang)的(de)測(ce)試(shi)電壓Ur 移(yi)相(xiang)，使(shi)UC與Ig同相(xiang)位(wei)（U r 與UC 恒定(ding)相(xiang)差90度），從（圖B）中(zhong)可見，測(ce)量到的(de)電流IgX與有效(xiao)的(de)I X 相(xiang)差不大（當幹(gan)擾電流較小(xiao)時(shi)），如(ru)果(guo)能再(zai)反(fan)Ig方向將U C 移相(xiang)壹次(ci)，兩(liang)次數據合(he)成(cheng)即能準確地(di)找(zhao)到介損角δ（即使(shi)幹擾電流較大）。

    2、變(bian)頻法(fa)
    現(xian)場(chang)測(ce)量時(shi)通(tong)常使(shi)用工(gong)頻電源(yuan)，而(er)現(xian)場(chang)幹(gan)擾(rao)主(zhu)要也是工(gong)頻，同頻率的(de)電源(yuan)相(xiang)互疊(die)加形成(cheng)幹(gan)擾(rao)，去除(chu)無(wu)用的(de)幹(gan)擾(rao)而保(bao)留有用測(ce)試(shi)電流是非(fei)常困難的(de)，用非工(gong)頻電源(yuan)進(jin)行(xing)測(ce)量，則(ze)工(gong)頻電源(yuan)的(de)幹(gan)擾(rao)電流與測(ce)試(shi)電流由(you)於頻率不同，是很容(rong)易(yi)區(qu)分(fen)開(kai)的(de)。比如，將所(suo)含(han)有幹(gan)擾混(hun)合信(xin)號(hao)的(de)前10ms信(xin)號(hao)，與(yu)後(hou)10ms信(xin)號(hao)相(xiang)加，就(jiu)去除(chu)了(le)工(gong)頻幹擾，而測(ce)量信(xin)號(hao)不是50Hz所(suo)以得以保(bao)留。

    3、波形分析(xi)法(fa)

    計算機(ji)的(de)運(yun)用，使(shi)大量的(de)工(gong)程分(fen)析(xi)計算變(bian)得方便(bian)，通(tong)過(guo)對(dui)現(xian)場(chang)幹(gan)擾(rao)的(de)大(da)量(liang)采集(ji)分析(xi)，結合(he)測(ce)量到的(de)波形，運(yun)用高(gao)等(deng)數學理(li)論，巧妙(miao)地去除(chu)幹(gan)擾，也(ye)同樣(yang)達到目的(de)。甚至去除(chu)壹(yi)、三、五(wu)次諧波也很方便(bian)。

（三）要求(qiu)

    工(gong)程測(ce)量介質(zhi)損耗，通(tong)常要求(qiu)能分(fen)辨(bian)出0.1%介質(zhi)值(zhi)是不過(guo)分(fen)的(de)。
    介質(zhi)損耗：tg(δ)=0.1%=0.001
    損耗角度;δ=0.057
    對(dui)應時(shi)間:T=δ/360×20ms=3.183μS

（四）比較

    幹擾(rao)信(xin)號(hao)是由(you)幹擾(rao)源通(tong)過(guo)媒(mei)介施(shi)加(jia)到試(shi)品上(shang)，即使(shi)幹擾源(yuan)是恒定(ding)的(de)，但(dan)傳輸媒(mei)介是空(kong)氣(qi)及(ji)其它絕(jue)緣體不是恒定(ding)介質(zhi)（圖(tu)C 圖(tu)D），所(suo)以幹(gan)擾電流Ig方向隨機(ji)變(bian)化(hua)的(de)程(cheng)度≥0.057不足為奇(qi)。要使(shi)測(ce)試(shi)電源(yuan)隨(sui)時(shi)跟蹤Ig，而跟蹤角度誤(wu)差≤0.057°絕(jue)非易(yi)事，所(suo)以*終抗(kang)幹擾雖然有效(xiao)，但(dan)是測(ce)量精(jing)度不容易(yi)提高(gao)。

    運(yun)行(xing)的(de)設(she)備(bei)（試(shi)品）在工(gong)頻下(xia)運(yun)行(xing)，要求(qiu)知(zhi)道在工(gong)頻條(tiao)件(jian)下(xia)的(de)介質(zhi)損耗。
    理論上(shang)：介質(zhi)損耗=2πf RC，（f=50Hz）
    所(suo)以用非工(gong)頻的(de)f′電源(yuan)加(jia)在試(shi)品上(shang)所(suo)測(ce)得的(de)介質(zhi)損耗=2πf′R C，再由(you)這壹(yi)結果(guo)推算出2πf RC易(yi)如反(fan)掌(zhang)。
    然而運(yun)行(xing)設備(bei)的(de)等(deng)效(xiao) R，不是理(li)想的(de)電阻(zu)其(qi)中(zhong)更多(duo)的(de)是有(you)級(ji)分(fen)子(zi)，其等效(xiao) R隨頻率f的(de)變(bian)化(hua)而變(bian)化，所(suo)以盡(jin)管理論上(shang)介質(zhi)損耗與頻率成(cheng)正(zheng)比，而實(shi)際介質(zhi)損耗(2πfRC)不與頻率成(cheng)正(zheng)比。這給(gei)根據變頻2πf′RC推算工(gong)頻2πf RC造成(cheng)了(le)麻(ma)煩。
    為(wei)了減(jian)小(xiao)這(zhe)個(ge)非(fei)線性誤(wu)差，f′采(cai)用接(jie)近工(gong)頻的(de)頻率，但(dan)過(guo)分(fen)接(jie)近等(deng)於(yu)沒有辨(bian)頻，這就(jiu)是主(zhu)要矛(mao)盾。好在大(da)多數試(shi)品對(dui)頻率的(de)敏(min)感沒有那麽(me)強熱(re)。所(suo)以變(bian)頻法(fa)抗(kang)幹擾是比較成(cheng)功(gong)的(de)。
    產(chan)生壹個(ge)有(you)壹(yi)定(ding)的(de)功(gong)率(lv)，且(qie)又(you)是正(zheng)弦(xian)波的(de)異(yi)頻電源(yuan)有(you)較大(da)的(de)難度。因(yin)為異(yi)頻電源(yuan)波形的(de)失真度對(dui)相(xiang)角的(de)影響很大(da)，或(huo)者(zhe)與實(shi)際工(gong)頻正(zheng)弦(xian)波電源(yuan)情(qing)況下(xia)所(suo)造成(cheng)的(de)介質(zhi)損耗有誤(wu)差。
    為(wei)了去除(chu)接(jie)近 f′工(gong)頻幹擾，變頻法(fa)不得不處理(li)大(da)量的(de)數據，所(suo)以相(xiang)對(dui)測(ce)量時(shi)間較長(chang)。

（五(wu)）BC2690B 處理(li)幹(gan)擾的(de)方法(fa)

    測(ce)試(shi)電源(yuan)采(cai)用工(gong)頻，使(shi)測(ce)量與(yu)實(shi)際上(shang)壹樣(yang)，交(jiao)錯分時(shi)測(ce)量幹(gan)擾信(xin)號(hao)和綜(zong)合(he)信(xin)號(hao)，將(jiang)所(suo)有測(ce)到的(de)信(xin)號(hao)都**地鎖定(ding)在與(yu)測(ce)試(shi)電源(yuan)同(tong)步(bu)的(de)0 相(xiang)位(wei)上(shang)，再將(jiang)幹擾(rao)信(xin)號(hao)倒相(xiang)與綜(zong)合(he)信(xin)號(hao)疊(die)加(jia)得到有(you)效(xiao)信(xin)號(hao)。
    在數字處理(li)上(shang)，廣(guang)泛地(di)采用數字與(yu)電子(zi)技(ji)術，剔(ti)除(chu)了(le)相(xiang)角相(xiang)差1%的(de)信(xin)號(hao)，剔(ti)除(chu)了(le)數值(zhi)較(jiao)大(da)的(de)幾(ji)組(zu)信(xin)號(hao)，也(ye)剔(ti)除(chu)了(le)數值(zhi)較(jiao)小(xiao)的(de)幾(ji)組(zu)信(xin)號(hao)，再(zai)將(jiang)許(xu)多(duo)組值(zhi)信(xin)號(hao)求(qiu)平均(jun)值(zhi)得出結果，而每(mei)組(zu)信(xin)號(hao)都是由(you)許多(duo)測(ce)量信(xin)號(hao)與(yu)處理(li)後(hou)的(de)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)構(gou)成(cheng)的(de)。在調(tiao)試(shi)中(zhong)所(suo)有數據都有以6位(wei)有效(xiao)數字計算。為(wei)了提高(gao)測(ce)量速(su)度，采(cai)用雙計算機(ji)和高(gao)速(su)並(bing)行(xing)A/D轉換器(qi)處理(li)信(xin)息，軟件(jian)全部用匯編完(wan)成(cheng)。
    對(dui)於強(qiang)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)較(jiao)**地(di)測(ce)出其大小(xiao)不難，儀(yi)器(qi)特別(bie)設(she)計的(de)高(gao)精(jing)度相(xiang)位(wei)鎖定(ding)器(qi)能將(jiang)其(qi)準確地(di)定(ding)相(xiang)，為完(wan)全消除(chu)幹(gan)擾提供了便(bian)利，對(dui)於弱(ruo)幹擾信(xin)號(hao)粗略(lve)地(di)測(ce)出其大小(xiao)也(ye)是可以(yi)的(de)，而(er)相(xiang)位(wei)鎖定(ding)器(qi)並不受測(ce)量信(xin)號(hao)的(de)大(da)小(xiao)影響，仍(reng)然準確定(ding)相(xiang)，弱(ruo)幹擾本(ben)對(dui)測(ce)量信(xin)號(hao)的(de)影響就(jiu)小(xiao)，再(zai)粗略(lve)地(di)去除(chu)其(qi)大部(bu)分，也(ye)可以(yi)認為(wei)去除(chu)了(le)幹擾(rao)。
    對(dui)於突(tu)發(fa)性幹擾信(xin)號(hao)，儀(yi)器(qi)盡可能地(di)將(jiang)采樣(yang)的(de)幹(gan)擾(rao)數據廢除(chu)，或(huo)宣布(bu)測(ce)試(shi)失敗，以(yi)保(bao)證數據結(jie)果的(de)可靠(kao)性。
    實(shi)驗數據：用工(gong)頻500V電壓加(jia)載50PF電容(rong)測(ce)量信(xin)號(hao)電流約8μA，無(wu)幹(gan)擾(rao)時(shi)快(kuai)速(su)測(ce)量測(ce)得介損為0.08%，抗(kang)幹擾測(ce)量測(ce)得介損為0.08%，用20000V工(gong)頻做(zuo)幹(gan)擾(rao)，距(ju)離(li)被試(shi)品10厘(li)米(mi)，快速(su)測(ce)量測(ce)得介損為12.23%，抗(kang)幹擾測(ce)量測(ce)得介損為0.09%。